KOMPLEXE TESTS
Lösungen für den Halbleitertest
Elektronische Geräte werden immer leistungsfähiger und auch ihre Vernetzung nimmt weiterhin zu. Gleichermaßen steigt daher der Einsatz von Halbleitern in den unterschiedlichsten Industriebereichen und wird sich auch zukünftig weiter erhöhen. Besonders in Bereichen wie Automotive oder Telekommunikation ist dieser Trend deutlich zu beobachten.
Entsprechend steigt auch die Komplexität der Tests in der Halbleiter-Industrie und zwar unabhängig von den Industriebereichen, für die ICs hergestellt werden.
Halbleiter-Testlösung für Ihren Industriebereich
Lösungen für den Halbleitertest
Um die neuesten Herausforderungen beim Test von HF- und Mixed-Signal-ICs oder Speichern erfolgreich zu meistern, bieten wir unterschiedlichste Services für Halbleiterhersteller: von der Chip-Charakterisierung über Konformitätstests bis hin zu Wafer-Level-Tests und Final-Tests nach dem Packaging.
Wir unterstützen Sie projektbezogen von der Verifikation der ersten Muster („First Silicon“), bis hin zu kompletten ATE-Testlösungen in der Produktion.
Ihre individuellen Testanforderungen sind unsere Vorgabe – unsere skalierbaren Testansätze Ihre Lösung.
Mixed Signal & Sensor
RFIC & mmWAVE OTA
Memories
Wafer Level Test
Unsere Leistungen
Entwicklung von Test-Frameworks & Software Tools
- Individuelle Benutzeroberfläche
- Management der Testausführung
- Testurteil (basierend auf den Messergebnissen)
- Steuerung von Peripheriegeräten wie Temperaturgeräte und Sonden
- Datenprotokollierung, Analyse und Berichterstattung
Warum ist die Standardisierung auf ein Test-Framework sinnvoll?
Oftmals kommt es vor, dass verschiedene Test-Teams an mehreren Firmenstandorten tätig sind und unterschiedliche Hardware-Plattformen von verschiedenen Herstellern nutzen.
Hier bringt eine Standardisierung, neben einer einfachen Handhabung, Vorteile wie geringere Testentwicklungskosten, höhere Wiederverwendbarkeit bei gleichzeitig höheren Qualitätsstandard und somit eine größere Zuverlässigkeit mit sich.
Messtechnik
Entwicklung von Testcode-Modulen
Wir entwickeln vielseitige und umfangreiche Software-Anwendungen, bei denen Ihr jeweiliges Testprodukt stets im Mittelpunkt unseres Programmieransatzes steht. Dabei nutzen unsere Experten vorrangig folgende Softwareumgebungen:
NI LabVIEW, NI TestStand inkl. Semiconductor Test Module, Python, C++, C# und .NET.
Selbstverständlich werden Ihre Produktvarianten mit einem professionellen Variantenmanagement abgedeckt. Die Messergebnisse werden in Reports zusammengefasst und bei Bedarf in Ihre Datenbank integriert.
Unsere Anwendungen sind modular aufgebaut und daher jederzeit skalierbar. Damit sind Sie von Anfang an für zukünftige Anforderungen bereit. Je nach Ihren internen Kapazitäten betreuen wir Sie projektbasiert oder langfristig und auch gerne direkt vor Ort.
Unsere Expertise in halbleiterspezifischer Messtechnik:
- Source Measure Units
- High-Speed-Digital I/O-Modulen
- Digitale Pattern-Generatoren
- RF- und mmWave-Generatoren
- FPGA-basierte Oszilloskope
- Arbiträre Signalgeneratoren
- NI-STS-Plattform
- Testsoftware für typische Komponenten wie 5G-Beamformer, HF-Leistungsverstärker und HF-Frontend-Module für 4G und 5G.
Wie gehen wir vor?
Zur Entwicklung Ihrer individuellen Testlösung definieren wir zunächst gemeinsam Ihre Teststrategie. Im Anschluss entwickeln wir einen Testcode für Ihre Halbleiter-Charakterisierung, -Validierung oder -Produktion.
Unser Portfolio umfasst auch Konformitäts-Tests, bei denen wir prüfen, dass Ihr Produkt die spezifizierten Industrie-Standards erfüllt. Hierzu zählen die Entwicklung von Bibliotheken für elektrische Funktionstests (u.a. LV124) sowie Kommunikationsprotokolle (u.a. LIN, SENT und PSI5) und auch Prüfungen bei unterschiedlichen Umwelteinflüssen.
Unsere Experten unterstützen Sie gerne auch bei der Testcode-Optimierung, zum Beispiel um die Wiederverwendbarkeit zu erhöhen, Prozesse statistisch zu analysieren oder Testzeiten zu verringern.
Kundenspezifisch und Individuell
Hardware-Entwicklung & Produktion
Wir konzipieren, entwickeln und fertigen für Sie ebenfalls die passende projektspezifische Hardware. Dies können beispielweise kundenspezifische Leiterplatten (PCBs), Signalkonditionierung oder auch Messgeräte sein.
Zudem bieten wir individuelle Ergänzungen wie Loadboards (mit bis zu 25 Lagen), Probecards und Interfaceboards zur Komplementierung von COTS-Tester-Plattformen inklusive NI STS an.
Wir entwickeln und fertigen ebenso verschiedene RF-Multiplexing-Lösungen und RF-Kammern für OTA-Messungen.
Schlüsselfertige Systeme
Schlüsselfertige Systemintegration für Wafer-, IC- und Modultests
Auch für schlüsselfertige Systeme bieten wir die optimale Lösung an, wie z.B. das NI STS inklusive Software und Integration von Handler und Prober.
Die UTP Plattform deckt typische Anforderungen an System-Level-Tests ab: optimiert für hohen Durchsatz, mit RF- und FPGA-Technologie, wie zum Beispiel unsere vollautomatischen Kalibrier-, Flash- und Verpack-Anlagen für LTE-NAD-Module.
Alle Service- und Supportleistungen werden durch lokale Ingenieure mit Debugging- und Troubleshooting-Erfahrung oder auf Wunsch auch remote angeboten.