EINFÜHRUNG

Das Grundkonzept der UTP HF-Testerplatform wurde speziell für Hersteller von HF-Komponenten für den Automobilsektor sowie für Infotainment entwickelt. Es reduziert mit Hilfe von Non-Signaling EOL-Tests die Testzeiten und führt effiziente, zuverlässige RunIn/Screening-Tests durch, um den steigenden Bedarf an qualitativ hochwertigen HF-Komponenten zu decken.
Non-Signaling reduziert die Zeit, die zum Testen von Phone-Modulen benötigt wird, auf 20 – 30% der für Signaling-Tests erforderlichen Zeit.

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Das HF-Tester-Konzept basiert auf der sehr erfolgreichen und vielseitigen NOFFZ UTP Testerfamlie, die mit umfassenden Erfahrungen im Bereich der HF-Technik kombiniert wurden. Das Konzept ermöglicht parallele und sequentielle Non-Signaling-Tests mehrerer Prüflinge und bietet austauschbare Adapter für verschiedene Produktvarianten. Es kann auch Funktionstests wie Spannungsmessungen oder Bus-Kommunikation durchführen.

Für sicherheitsrelevante Produkte, die unter extremen Bedingungen betriebsbereit bleiben müssen, besteht die Möglichkeit, RunIN-/ Screening-Tests der Prüflinge innerhalb einer Klimakammer, durchzuführen. Innerhalb der Kammer können zusätzliche Non-Signaling-Tests durchgeführt werden.

Das modulare System eignet sich zum Testen von einzelnen Chips, Modulen oder Produkten, die über Non-Signaling Modi verfügen. Es ermöglicht kundenspezifisches Reporting der Testergebnisse, die in lokale Report-Dateien geschrieben oder an Datenbanken, MES/FIS-Systeme und sogar bis zum ERP-Level weitergereicht werden können.

Aufgrund der austauschbaren Adapter-Kassette kann die skalierbare Hardware zahlreiche Produktvarianten verarbeiten und einen hohen Durchsatz gründlich getesteter Produkte sicherstellen.

Die Platform umfaßt HF-Signalerzeugungs- und Aufzeichnungsgeräte, die in der Lage sind, jedes unidirektionakle HF-Signal wie Radio, TV oder GNSS bereitzustellen. Aus diesem Grund kann jedes Sende-/Empfangs-Modul mit geeigneten HF-Signalen getestet werden, deren Signalpegel, Störungen und Modulationsarten individuell konfiguriert werden können.

Vorteile

Non-Signaling Testmethoden ermöglichen die Reduzierung von Testzeiten und Materialkosten während des Herstellungs- und Validierungs-prozesses von Chips für GMS-, HSDPA-, LTE-, GPS- oder eCall-Anwendungen. Sie setzen nicht auf zeitintensive Signalerzeugung sondern auf direkte Kontrolle eines Prüflings über low-level Debugging-Interfaces und ermöglichen einen effizienteren Test.

Sorgfältig implementierte Non-Signaling Test-Modi erhöhen den Durchsatz, wobei Produktqualität und Zuverlässigkeit auf dem Niveau von Signaling- Tests erhalten bleiben. Non-Signaling-Tests können nicht nur mit Chips sondern auch mit Modulen und Produkten mit Non-Signaling-Struktur durchgeführt werden.

Das hochwertige UTP-Hardware-System besteht aus einem 19″-Chassis mit NOFFZ IPC 3012 und PXI-Chassis von National Instruments, das ein NI VST und HF-Multiplexer für die Non-Signaling- Tests beinhaltet. Zusätzlich kann es weitere Meß- oder I/O-Karten für Funktionstests aufnehmen.

Für optimale Signalqualität beinhaltet die Platform die NOFFZ sUTP 5012 Signalkonditionierungs-Einheit, ein skalierbares Modul, das für systematische HF-Tests entwickelt wurde und an die prüflings-spezifischen Anforderungen angepaßt werden kann.

Die Systeme können HF-Signalgeneratoren wie das NOFFZ URT (Universal Receiver Tester) beinhalten, die Erzeugung und Wiedergabe verschiedener HF-Signale ermöglichen.

Der sequentielle oder parallele Test zahlreicher Prüflinge sowie das Varianten-Management werden durch das NOFFZ TestStand Test Execution Frontend (TEF) gesteuert, das mit jahrelanger Erfahrung im Hinlick auf zeit- und kosten-effizientes Testen optimiert wurde. Das TEF ist skalierbar und bietet zahlreiche Optionen für das Testen vieler Prüflinge. Es kann auch kunden-eigene Code-Module verarbeiten, die in einer beliebigen Programmiersprache erstellt wurden.

Vorteile

  • Antennenerkennung/-diagnose, Tests von MIMO-Antennensystemen
  • GPS-, GLONASS-, GALILEO-, LTE-, GMS-, HSPDA-, cdma2000-, WCDMA-, WiMAX TM-, Bluetooth-, SIM-, … Tests
  • Audiomessungen und Analyse, Bandbreiten-/Spektraltests
  • Loopback und Single-ended BER-Tests
  • RSSI (Receive Signal Strength Indicator) & Sendeleistung
  • Sender- und Empfängertests (mit HF-Signalerzeugung und Klimakammer)
  • RunIN/Screening-Tests (-40°C – +85°C)
  • CAN/LAN/LIN-Kommunikation und Tests
  • Funktionstests

UTP Lösungen für HF- und Funktionstests

Anzeigebild Universal Tester Plattform 9010-rf - Noffz TEchnologies

UTP 9010

FCT & non-signaling

RF- und Funktionstest + Flashen

Der UTP 9010 RF EOL Tester bietet eine Kombination von Flashen , Funktions- und RF-Tests.

Universal Tester Plattform 9065-213 von Noffz Technologies

UTP 9065 eCall

Multi-DUT Tester

RF-, RunIn-Screening Test

RunIn-Screening Tester, der bis zu 28 eCall-Module parallel im Klimaschrank testet.

Universal TEster Plattform 6010 front - Noffz Technologies

UTP 6010

RunIn/Screening FCT

RF- und Funktionstest + Flashen

Der UTP 9010 RF EOL Tester bietet eine Kombination von Flashen , Funktions- und RF-Tests.

Zusammenfassung

Die Testerplatform bietet vielseitige, skalierbare HF-Testsysteme für den parallelen Test zahlreicher Prüflinge. Sie erlaubt zeit- und kosteneffiziente Non-Signaling-, Funktions- und RunIN/Screening-Tests und eignet sich zum Testen ganzer HF-Produktgruppen aus eCall-, NAD-, CarToCar- oder Telematik-Modulen. Sie ermöglicht kundenspezifisches Reporting, Varianten-management durch austauschbare Adapter-Kassetten und ausgeklügelte HF-Signalerzeugung und -konditionierung.

Hersteller, die nach einem nachhaltigen Testsystem suchen, das nicht nur die heutigen HF-Standards handhaben kann, sondern auch für künftige Anforderungen gut vorbereitet ist, werden die UTP HF Testerplatform besonders interessant finden, weil sie einfach um neue Varianten, Protokolle und Testschritte erweitert werden kann.